Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
From scientific instrument to industrial machine Coping with architectural stress in embedded systems için kapak resmi
From scientific instrument to industrial machine Coping with architectural stress in embedded systems
Yazar 
Doornbos, Richard. editor. van Loo, Sjir. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-4147-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Scalable Network Monitoring in High Speed Networks için kapak resmi
Scalable Network Monitoring in High Speed Networks
Yazar 
Choi, Baek-Young. author. Zhang, Zhi-Li. author. Du, David Hung-Chang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0119-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Performance Evaluation and Benchmarking of Intelligent Systems için kapak resmi
Performance Evaluation and Benchmarking of Intelligent Systems
Yazar 
Madhavan, Raj. editor. Tunstel, Edward. editor. Messina, Elena. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-0492-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Control and Automation International Conference, CA 2009, Held as Part of the Future Generation Information Technology Conference, CA 2009, Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009.Proceedings için kapak resmi
Control and Automation International Conference, CA 2009, Held as Part of the Future Generation Information Technology Conference, CA 2009, Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009.Proceedings
Yazar 
Ślęzak, Dominik. editor. Kim, Tai-hoon. editor. Stoica, Adrian. editor. Kang, Byeong-Ho. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-10741-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: