Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Production Planning and Control for Semiconductor Wafer Fabrication Facilities Modeling, Analysis, and Systems için kapak resmi
Production Planning and Control for Semiconductor Wafer Fabrication Facilities Modeling, Analysis, and Systems
Yazar 
Mönch, Lars. author. Fowler, John W. author. Mason, Scott J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331515.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4472-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Risk Assessment and Management in the Networked Economy için kapak resmi
Risk Assessment and Management in the Networked Economy
Yazar 
Hussain, Omar K. author. Dillon, Tharam S. author. Hussain, Farookh K. author. Chang, Elizabeth J. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333196.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28690-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Handbook of Operations Research for Homeland Security için kapak resmi
Handbook of Operations Research for Homeland Security
Yazar 
Herrmann, Jeffrey W. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331730.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5278-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Engineering Risk and Finance için kapak resmi
Engineering Risk and Finance
Yazar 
Tapiero, Charles S. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331980.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6234-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Dimensionality Reduction with Unsupervised Nearest Neighbors için kapak resmi
Dimensionality Reduction with Unsupervised Nearest Neighbors
Yazar 
Kramer, Oliver. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334643.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38652-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: