Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(22)
Huanye, Sheng. editor.
(2)
Ajit, Srividya. author.
(1)
Anagnostakis, Kostas. editor.
(1)
Bianchi, Giuseppe. editor.
(1)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
22 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
System Dependability Evaluation Including S-dependency and Uncertainty Model-Driven Dependability Analyses için kapak resmi
System Dependability Evaluation Including S-dependency and Uncertainty Model-Driven Dependability Analyses
Yazar 
Kochs, Hans-Dieter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-64991-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Requirements Engineering and Management for Software Development Projects için kapak resmi
Requirements Engineering and Management for Software Development Projects
Yazar 
Chemuturi, Murali. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331756.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5377-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects için kapak resmi
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Trustworthy Internet için kapak resmi
Trustworthy Internet
Yazar 
Salgarelli, Luca. editor. Bianchi, Giuseppe. editor. Blefari-Melazzi, Nicola. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-88-470-1818-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
VLSI 2010 Annual Symposium Selected papers için kapak resmi
VLSI 2010 Annual Symposium Selected papers
Yazar 
Voros, Nikolaos. editor. Mukherjee, Amar. editor. Sklavos, Nicolas. editor. Masselos, Konstantinos. editor. Huebner, Michael. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1488-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Software Reliability Assessment with OR Applications için kapak resmi
Software Reliability Assessment with OR Applications
Yazar 
Kapur, P.K. author. Pham, Hoang. author. Gupta, A. author. Jha, P.C. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-204-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Dependability of Networked Computer-based Systems için kapak resmi
Dependability of Networked Computer-based Systems
Yazar 
Verma, Ajit Kumar. author. Ajit, Srividya. author. Kumar, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-318-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Soft Errors in Modern Electronic Systems için kapak resmi
Soft Errors in Modern Electronic Systems
Yazar 
Nicolaidis, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design için kapak resmi
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
Yazar 
Cao, Yu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0445-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault için kapak resmi
Models in Hardware Testing Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault
Yazar 
Wunderlich, Hans-Joachim. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3282-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: