Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Product Reliability Specification and Performance için kapak resmi
Product Reliability Specification and Performance
Yazar 
Murthy, Dodderi Narshima Prabhakar. author. Rausand, Marvin. author. Østerås, Trond. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-271-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advances in Human Error, Reliability, Resilience, and Performance Proceedings of the AHFE 2017 International Conference on Human Error, Reliability, Resilience, and Performance, July 17–21,2017, The Westin Bonaventure Hotel,Los Angeles, California, USA için kapak resmi
Advances in Human Error, Reliability, Resilience, and Performance Proceedings of the AHFE 2017 International Conference on Human Error, Reliability, Resilience, and Performance, July 17–21,2017, The Westin Bonaventure Hotel,Los Angeles, California, USA
Yazar 
Boring, Ronald Laurids. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-60645-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Requirements Engineering and Management for Software Development Projects için kapak resmi
Requirements Engineering and Management for Software Development Projects
Yazar 
Chemuturi, Murali. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331756.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5377-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: