Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
2013
(2)
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Norms in Technology için kapak resmi
Norms in Technology
Yazar 
Vries, Marc J. editor. Hansson, Sven Ove. editor. Meijers, Anthonie W.M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335927.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-5243-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Ontology, Epistemology, and Teleology for Modeling and Simulation Philosophical Foundations for Intelligent M&S Applications için kapak resmi
Ontology, Epistemology, and Teleology for Modeling and Simulation Philosophical Foundations for Intelligent M&S Applications
Yazar 
Tolk, Andreas. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333399.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-31140-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: