Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
From traditional fault tolerance to blockchain için kapak resmi
From traditional fault tolerance to blockchain
Yazar 
Zhao, Wenbing, Ph.D., author.
Yer Numarası 
QA76.9 .D5 Z473 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119682127
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Dependable computing : design and assessment için kapak resmi
Dependable computing : design and assessment
Yazar 
Iyer, Ravishankar K., author. Kalbarczyk, Zbigniew T., author. Nakka, Nithin M., author.
Yer Numarası 
QA76.9 .F38 I9 2020 EB
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119743453
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: