Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists için kapak resmi
Forensic metrology : scientific measurement and inference for lawyers, judges and criminalists
Yazar 
Vosk, Ted, author. Emery, A. F. (Ashley Francis), 1934- author.
Yer Numarası 
HV8073.5 .V67 2015
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Fundamentals of fingerprint analysis için kapak resmi
Fundamentals of fingerprint analysis
Yazar 
Moses Daluz, Hillary, author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
HV6074 .D353
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fundamentals of forensic science için kapak resmi
Fundamentals of forensic science
Yazar 
Houck, Max M. Siegel, Jay A.
Yer Numarası 
HV8073 H77 2010
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Principles and practice of criminalistics : the profession of forensic science için kapak resmi
Principles and practice of criminalistics : the profession of forensic science
Yazar 
Inman, Keith., author. Rudin, Norah.
Yer Numarası 
HV8073 .I443 2001
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Introduction to forensic sciences için kapak resmi
Introduction to forensic sciences
Yazar 
Eckert, William G., 1926-
Yer Numarası 
HV8073 .I57 1997 EB
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781439821909
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780367803032
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: