Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advanced In-Flight Measurement Techniques için kapak resmi
Advanced In-Flight Measurement Techniques
Yazar 
Boden, Fritz. editor. Lawson, Nicholas. editor. Jentink, Henk W. editor. Kompenhans, Jürgen. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333886.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34738-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Surface Tension in Microsystems Engineering Below the Capillary Length için kapak resmi
Surface Tension in Microsystems Engineering Below the Capillary Length
Yazar 
Lambert, Pierre. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334451.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-37552-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: