Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications için kapak resmi
Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications
Yazar 
Servín, Manuel, author. Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio), author. Padilla, J. Moisés (José Moisés), author.
Yer Numarası 
ONLINE(342225.1)
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/choice/publicfullrecord.aspx?p=1701414
ebrary http://site.ebrary.com/id/10881255
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9783527681075
MyiLibrary http://www.myilibrary.com?id=615339
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Interferogram analysis for optical testing için kapak resmi
Interferogram analysis for optical testing
Yazar 
Malacara, Daniel, 1937- Servn̕, Manuel. Malacara, Zacarias, 1948-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: