Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Applied survival analysis regression modeling of time-to-event data için kapak resmi
Applied survival analysis regression modeling of time-to-event data
Yazar 
Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley. May, Susanne.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Available by subscription from Safari Books Online
Contributor biographical information http://catdir.loc.gov/catdir/enhancements/fy0826/2007035523-b.html
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118211588
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Logistic regression : a self-learning text için kapak resmi
Logistic regression : a self-learning text
Yazar 
Kleinbaum, David G. Klein, Mitchel.
Yer Numarası 
R 853.S7 K54 2002
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Applied logistic regression analysis için kapak resmi
Applied logistic regression analysis
Yazar 
Menard, Scott W.
Yer Numarası 
QA 278.2 M46 2002
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Sanayi işletmelerinde lojistik faaliyetlerin organizasyonu : Eyap A.Ş. Artema Armatür Grubu ve Dasa-Dağıtım ve satış A.Ş.'deki inceleme için kapak resmi
Sanayi işletmelerinde lojistik faaliyetlerin organizasyonu : Eyap A.Ş. Artema Armatür Grubu ve Dasa-Dağıtım ve satış A.Ş.'deki inceleme
Yazar 
Timur, Necdet.
Yer Numarası 
QA 278.2 T126 1998
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: