![VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers için kapak resmi](/client/assets/5.0.0.9/ctx//client/images/no_image.png)
Başlık:
VLSI Design and Test 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers
Yazar:
Sengupta, Anirban. editor.
ISBN:
9789813297678
Basım Bilgisi:
1st ed. 2019.
Fiziksel Tanımlama:
XVI, 775 p. 545 illus., 336 illus. in color. online resource.
Seri:
Communications in Computer and Information Science, 1066
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
https://doi.org/10.1007/978-981-32-9767-8Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 486687-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |