Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
In Search of the Next Memory Inside the Circuitry from the Oldest to the Emerging Non-Volatile Memories için kapak resmi
In Search of the Next Memory Inside the Circuitry from the Oldest to the Emerging Non-Volatile Memories
Yazar 
Gastaldi, Roberto. editor. Campardo, Giovanni. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-47724-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: