Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Handbook of Metrology and Applications için kapak resmi
Handbook of Metrology and Applications
Yazar 
Aswal, Dinesh K. editor. Yadav, Sanjay. editor. Takatsuji, Toshiyuki. editor. Rachakonda, Prem. editor. Kumar, Harish. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-99-2074-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations için kapak resmi
Metrology and standardization of nanotechnology : protocols and industrial innovations
Yazar 
Mansfield, Elisabeth, (Research chemist), editor. Kaiser, Debra L., editor. Fujita, Daisuke (Materials scientist), editor. Voorde, M. H. van de (Marcel H.), editor.
Yer Numarası 
T174.7
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9783527800308
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: