Başlık:
Helium Ion Microscopy Principles and Applications
Yazar:
Joy, David C. author.
ISBN:
9781461486602
Fiziksel Tanımlama:
VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color. online resource.
Seri:
SpringerBriefs in Materials,
Tüzel Kişi Ek Girişi:
Elektronik Erişim:
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-8660-2Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 332438-1001 | ONLINE(332438.1) | Arıyor... | Arıyor... |