Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
9 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
CMOS Hotplate Chemical Microsensors için kapak resmi
CMOS Hotplate Chemical Microsensors
Yazar 
Graf, Markus. author. Barrettino, Diego. author. Baltes, Henry P. author. Hierlemann, Andreas. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69562-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Analog Filters in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog Filters in Nanometer CMOS
Yazar 
Uhrmann, Heimo. author. Kolm, Robert. author. Zimmermann, Horst. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-38013-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors için kapak resmi
Poly-SiGe for MEMS-above-CMOS Sensors
Yazar 
Gonzalez Ruiz, Pilar. author. De Meyer, Kristin. author. Witvrouw, Ann. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-6799-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Integrated Chemical Microsensor Systems in CMOS Technology için kapak resmi
Integrated Chemical Microsensor Systems in CMOS Technology
Yazar 
Hierlemann, Andreas. author. Baltes, H. editor. Fujita, Hiroyuki. editor. Liepmann, Dorian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138987
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author. Kaczer, Ben. author. Groeseneken, Guido. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Variation Aware Analog and Mixed-Signal Circuit Design in Emerging Multi-Gate CMOS Technologies için kapak resmi
Variation Aware Analog and Mixed-Signal Circuit Design in Emerging Multi-Gate CMOS Technologies
Yazar 
Fulde, Michael. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3280-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Into the Nano Era Moore’s Law Beyond Planar Silicon CMOS için kapak resmi
Into the Nano Era Moore’s Law Beyond Planar Silicon CMOS
Yazar 
Huff, Howard R. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74559-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies için kapak resmi
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Yazar 
Semenov, Oleg. author. Sarbishaei, Hossein. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8301-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: