Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices için kapak resmi
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
Yazar 
Sikula, Josef. editor. Levinshtein, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-2170-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Silicon Analog Components Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability için kapak resmi
Silicon Analog Components Device Design, Process Integration, Characterization, and Reliability
Yazar 
El-Kareh, Badih. author. Hutter, Lou N. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-2751-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Micro and Nanophotonics for Semiconductor Infrared Detectors Towards an Ultimate Uncooled Device için kapak resmi
Micro and Nanophotonics for Semiconductor Infrared Detectors Towards an Ultimate Uncooled Device
Yazar 
Jakšić, Zoran. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09674-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: