Search Results for Microscopy

1.

Science of Microscopy

Yazar

Hawkes, Peter W. editor. Spence, John C. H. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

2.

Microscopy of Semiconducting Materials 2007

Yazar

Cullis, A. G. editor. Midgley, P. A. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8615-1

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

3.

$Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi$

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Yazar

Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

4.

Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. author. Fuchs, Harald. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-85037-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

5.

Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. Tomitori, Masahiko. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-74080-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

6.

Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Kawata, Satoshi. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-37316-2

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

7.

Optical Imaging and Microscopy Techniques and Advanced Systems

Yazar

Török, Peter. author. Kao, Fu-Jen. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-69565-3

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

8.

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale

Yazar

Kalinin, Sergei. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-28668-6

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

9.

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

Yazar

Foster, Adam. author. Hofer, Werner. author. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

10.

Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques

Yazar

Bhushan, Bharat. editor. Fuchs, Harald. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/b139097

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

11.

Microscopy of Semiconducting Materials Proceedings of the 14th Conference, April 11–14, 2005, Oxford, UK

Yazar

Cullis, A. G. editor. Hutchison, J. L. editor. SpringerLink (Online service)

Yer Numarası

ONLINE

Elektronik Erişim

http://dx.doi.org/10.1007/3-540-31915-8

Format:

Durum

Çevrimiçi Kütüphane~1

Rafta:
Kopya:

	{displayName}	{count}
{error}