Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Innovative Technologies for Dependable OTS-Based Critical Systems Challenges and Achievements of the CRITICAL STEP Project için kapak resmi
Innovative Technologies for Dependable OTS-Based Critical Systems Challenges and Achievements of the CRITICAL STEP Project
Yazar 
Cotroneo, Domenico. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335577.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-88-470-2772-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Parallel Computing Technologies 12th International Conference, PaCT 2013, St. Petersburg, Russia, September 30 - October 4, 2013. Proceedings için kapak resmi
Parallel Computing Technologies 12th International Conference, PaCT 2013, St. Petersburg, Russia, September 30 - October 4, 2013. Proceedings
Yazar 
Malyshkin, Victor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(334871.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-39958-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: