Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance için kapak resmi
Counterfeit Integrated Circuits Detection and Avoidance
Yazar 
Tehranipoor, Mark (Mohammad). author. Guin, Ujjwal. author. Forte, Domenic. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-11824-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Designing TSVs for 3D Integrated Circuits için kapak resmi
Designing TSVs for 3D Integrated Circuits
Yazar 
Khan, Nauman. author. Hassoun, Soha. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331791.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5508-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Arbitrary Modeling of TSVs for 3D Integrated Circuits için kapak resmi
Arbitrary Modeling of TSVs for 3D Integrated Circuits
Yazar 
Salah, Khaled. author. Ismail, Yehea. author. El-Rouby, Alaa. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-07611-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design for High Performance, Low Power, and Reliable 3D Integrated Circuits için kapak resmi
Design for High Performance, Low Power, and Reliable 3D Integrated Circuits
Yazar 
Lim, Sung Kyu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(330852.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9542-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: