Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Practical applications of Bayesian reliability için kapak resmi
Practical applications of Bayesian reliability
Yazar 
Liu, Yan, author. Abeyratne, Athula I., author.
Yer Numarası 
QA279.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119287995
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: