Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Reliability analysis of modern power systems için kapak resmi
Reliability analysis of modern power systems
Yazar 
Saket, R. K., editor. Sanjeevikumar, Padmanaban, 1978-
Yer Numarası 
TA169 .S234 2024
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394226771
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Iterative learning control algorithms and experimental benchmarking için kapak resmi
Iterative learning control algorithms and experimental benchmarking
Yazar 
Rogers, E. T. A. (Eric Thomas Alexander), 1956- Chu, Bing, author. Freeman, Christopher, author. Lewin, Paul, author.
Yer Numarası 
TJ217.5 .R65 2023
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118535349
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Practical applications of Bayesian reliability için kapak resmi
Practical applications of Bayesian reliability
Yazar 
Liu, Yan, author. Abeyratne, Athula I., author.
Yer Numarası 
QA279.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119287995
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: