Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

Eylem Seç

Başlık:

Yazar:

Noia, Brandon. author.

ISBN:

9783319023786

Basım Bilgisi:

1st ed. 2014.

Fiziksel Tanımlama:

XVIII, 245 p. 133 illus., 115 illus. in color. online resource.

Konu Terimleri:

Yazar Ek Girişi:

Tüzel Kişi Ek Girişi:

Elektronik Erişim:

Ayırtma:
Kopya:

Kütüphane	Materyal Türü	Demirbaş Numarası	Yer Numarası	Durumu/İade Tarihi	Materyal Ayırtma
Arıyor... Çevrimiçi Kütüphane	E-Kitap	487405-1001	ONLINE	Arıyor... Unknown	Arıyor... Rafta