Başlık:
Semiconductor strain metrology principles and applications
Yazar:
Wong, Terence K. S.
ISBN:
9781608053599
Yayın Bilgileri:
[Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL : Bentham Science, [2012]
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (136 p. :) ill.
Elektronik Erişim:
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=500610Kopya:
Rafta:*
Kütüphane | Materyal Türü | Demirbaş Numarası | Yer Numarası | Durumu/İade Tarihi | Materyal Ayırtma |
|---|---|---|---|---|---|
Arıyor... | E-Kitap | 280205-1001 | ONLINE | Arıyor... | Arıyor... |