Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
11 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Optical techniques for solid-state materials characterization için kapak resmi
Optical techniques for solid-state materials characterization
Yazar 
Prasankumar, Rohit P. Taylor, Antoinette J., 1956-
Yer Numarası 
QC176.8 .O6 T43 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Kramers-Kronig Relations in Optical Materials Research için kapak resmi
Kramers-Kronig Relations in Optical Materials Research
Yazar 
Lucarini, Valerio. author. Peiponen, Kai-Erik. author. Saarinen, Jarkko J. author. Vartiainen, Erik M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138913
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Gas Sensing Fundamentals için kapak resmi
Gas Sensing Fundamentals
Yazar 
Kohl, Claus-Dieter. editor. Wagner, Thorsten. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-54519-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Physics of Quantum Rings için kapak resmi
Physics of Quantum Rings
Yazar 
Fomin, Vladimir M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-39197-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Emerging Non-Volatile Memories için kapak resmi
Emerging Non-Volatile Memories
Yazar 
Hong, Seungbum. editor. Auciello, Orlando. editor. Wouters, Dirk. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4899-7537-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Practical Materials Characterization için kapak resmi
Practical Materials Characterization
Yazar 
Sardela, Mauro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-9281-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Semiconductor Optics için kapak resmi
Semiconductor Optics
Yazar 
Klingshirn, Claus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-38347-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Spectroscopic ellipsometry principles and applications için kapak resmi
Spectroscopic ellipsometry principles and applications
Yazar 
Fujiwara, Hiroyuki. Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470060193
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms için kapak resmi
CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet Degradation Behavior and Damage Mechanisms
Yazar 
Li, Flora M. author. Nathan, Arokia. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b139047
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Semiconductor Optics için kapak resmi
Semiconductor Optics
Yazar 
Klingshirn, Claus. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138175
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
The Physics of Thin Film Optical Spectra An Introduction için kapak resmi
The Physics of Thin Film Optical Spectra An Introduction
Yazar 
Stenzel, Olaf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27905-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: