Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis için kapak resmi
Semi-Markov Chains and Hidden Semi-Markov Models toward Applications Their use in Reliability and DNA Analysis
Yazar 
Limnios, Nikolaos. author. Barbu, Vlad Stefan. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-73173-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Advances in Degradation Modeling Applications to Reliability, Survival Analysis, and Finance için kapak resmi
Advances in Degradation Modeling Applications to Reliability, Survival Analysis, and Finance
Yazar 
Nikulin, M.S. editor. Limnios, Nikolaos. editor. Balakrishnan, N. editor. Kahle, Waltraud. editor. Huber-Carol, Catherine. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4924-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Statistical Models and Methods for Biomedical and Technical Systems için kapak resmi
Statistical Models and Methods for Biomedical and Technical Systems
Yazar 
Vonta, Filia. editor. Nikulin, Mikhail. editor. Limnios, Nikolaos. editor. Huber-Carol, Catherine. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-8176-4619-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: