Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333265.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29761-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Yazar 
Fultz, Brent. author. Howe, James M. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73886-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials Nanoscale Imaging and Spectroscopy
Yazar 
Kalinin, Sergei V. editor. Gruverman, Alexei. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7167-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science için kapak resmi
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science
Yazar 
Williams, David B. author. Carter, C. Barry. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002 için kapak resmi
Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Scanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials Algarve, Portugal 1–13 October 2002
Yazar 
Vilarinho, Paula Maria. editor. Rosenwaks, Yossi. editor. Kingon, Angus. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3019-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: