Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
18 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reaction-diffusion computers için kapak resmi
Reaction-diffusion computers
Yazar 
Adamatzky, Andrew. De Lacy Costello, Ben. Asai, Tetsuya.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444520425
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Sistem ve network mühendisliği için kapak resmi
Sistem ve network mühendisliği
Yazar 
Kırbaş, Kayhan.
Yer Numarası 
QA76.76.O63 K463 2021
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
System Dependability Evaluation Including S-dependency and Uncertainty Model-Driven Dependability Analyses için kapak resmi
System Dependability Evaluation Including S-dependency and Uncertainty Model-Driven Dependability Analyses
Yazar 
Kochs, Hans-Dieter. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-64991-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Low-Power Design and Power-Aware Verification için kapak resmi
Low-Power Design and Power-Aware Verification
Yazar 
Khondkar, Progyna. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-66619-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Dependable Multicore Architectures at Nanoscale için kapak resmi
Dependable Multicore Architectures at Nanoscale
Yazar 
Ottavi, Marco. editor. Gizopoulos, Dimitris. editor. Pontarelli, Salvatore. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-54422-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip için kapak resmi
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Yazar 
Wang, Zheng. author. Chattopadhyay, Anupam. author. (orcid)0000-0002-8818-6983 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-1073-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
The Hardware Trojan War Attacks, Myths, and Defenses için kapak resmi
The Hardware Trojan War Attacks, Myths, and Defenses
Yazar 
Bhunia, Swarup. editor. Tehranipoor, Mark M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-68511-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Fault-Tolerant Design için kapak resmi
Fault-Tolerant Design
Yazar 
Dubrova, Elena. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331297.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-2113-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty için kapak resmi
Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Yazar 
Krishnaswamy, Smita. author. Markov, Igor L. author. Hayes, John P. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(335669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9644-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects için kapak resmi
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. author. Peng, Ke. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8297-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Soft Errors in Modern Electronic Systems için kapak resmi
Soft Errors in Modern Electronic Systems
Yazar 
Nicolaidis, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6993-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design için kapak resmi
Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
Yazar 
Cao, Yu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0445-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: