Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
20 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability için kapak resmi
Semiconductor Power Devices Physics, Characteristics, Reliability
Yazar 
Lutz, Josef. author. Schlangenotto, Heinrich. author. Scheuermann, Uwe. author. De Doncker, Rik. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-70917-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Lead Free Solder Mechanics and Reliability için kapak resmi
Lead Free Solder Mechanics and Reliability
Yazar 
Pang, John Hock Lye. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0463-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Solid State Lighting Reliability Components to Systems için kapak resmi
Solid State Lighting Reliability Components to Systems
Yazar 
van Driel, W.D. editor. Fan, X.J. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331314.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3067-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability için kapak resmi
Emerging Nanotechnologies Test, Defect Tolerance, and Reliability
Yazar 
Tehranipoor, Mohammad. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-74747-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip için kapak resmi
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Yazar 
Wang, Zheng. author. Chattopadhyay, Anupam. author. (orcid)0000-0002-8818-6983 SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-10-1073-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Solid State Lighting Reliability Part 2 Components to Systems için kapak resmi
Solid State Lighting Reliability Part 2 Components to Systems
Yazar 
van Driel, Willem Dirk. editor. Fan, Xuejun. editor. Zhang, Guo Qi. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-58175-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Power Electronic Packaging Design, Assembly Process, Reliability and Modeling için kapak resmi
Power Electronic Packaging Design, Assembly Process, Reliability and Modeling
Yazar 
Liu, Yong. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-1053-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Reliability, Availability and Serviceability of Networks-on-Chip için kapak resmi
Reliability, Availability and Serviceability of Networks-on-Chip
Yazar 
Cota, Érika. author. Morais Amory, Alexandre. author. Soares Lubaszewski, Marcelo. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0791-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures için kapak resmi
Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures
Yazar 
Stanisavljević, Miloš. author. Schmid, Alexandre. author. Leblebici, Yusuf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6217-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Securing Electricity Supply in the Cyber Age Exploring the Risks of Information and Communication Technology in Tomorrow's Electricity Infrastructure için kapak resmi
Securing Electricity Supply in the Cyber Age Exploring the Risks of Information and Communication Technology in Tomorrow's Electricity Infrastructure
Yazar 
Lukszo, Zofia. editor. Deconinck, Geert. editor. Weijnen, Margot P. C. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-3594-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Advanced risk analysis in engineering enterprise systems için kapak resmi
Advanced risk analysis in engineering enterprise systems
Yazar 
Pinto, Cesar Ariel. Garvey, Paul R., 1956-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: