Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
11 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
High Voltage Engineering Testing için kapak resmi
High Voltage Engineering Testing
Yazar 
Ryan, Hugh M., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBPO066E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Verification, validation, and testing of engineered systems için kapak resmi
Verification, validation, and testing of engineered systems
Yazar 
Engel, Avner.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Books24x7 http://www.books24x7.com/marc.asp?bookid=35180
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9780470618851
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470618851
http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9781118029312
http://proquest.safaribooksonline.com/9781118029312
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
A Handbook for EMC Testing and Measurement için kapak resmi
A Handbook for EMC Testing and Measurement
Yazar 
Morgan, David
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBEL008E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Mechanical reliability improvement probability and statistics for experimental testing için kapak resmi
Mechanical reliability improvement probability and statistics for experimental testing
Yazar 
Little, R. E. (Robert Eugene), 1933- Kosikowski, D. M.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Theory and Practice of Modern Antenna Range Measurements için kapak resmi
Theory and Practice of Modern Antenna Range Measurements
Yazar 
Parini, Clive Gregson, Stuart McCormick, John Janse van Rensburg, Daniel
Yer Numarası 
\(364916.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBEW055E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Lean Product Development A manager's guide için kapak resmi
Lean Product Development A manager's guide
Yazar 
Mynott, Colin
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBMT028E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach için kapak resmi
Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The system on chip approach
Yazar 
Yichuang Sun, ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBCS019E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learning için kapak resmi
Make and test projects in engineering design : creativity, engagement and learning
Yazar 
Samuel, A. E. (Andrew E.), 1931-
Yer Numarası 
TA174 .S268 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Electrical Steels for Rotating Machines için kapak resmi
Electrical Steels for Rotating Machines
Yazar 
Beckley, Philip
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBPO037E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Handbook of carbon, graphite, diamond, and fullerenes properties, processing, and applications için kapak resmi
Handbook of carbon, graphite, diamond, and fullerenes properties, processing, and applications
Yazar 
Pierson, Hugh O.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780815513391
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Spherical Near-field Antenna Measurements için kapak resmi
Spherical Near-field Antenna Measurements
Yazar 
Hansen, J. E., ed.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBEW026E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: