Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices için kapak resmi
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
Yazar 
Sikula, Josef. editor. Levinshtein, Michael. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-2170-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Neutrinos and Explosive Events in the Universe için kapak resmi
Neutrinos and Explosive Events in the Universe
Yazar 
Shapiro, Maurice M. editor. Stanev, Todor. editor. Wefel, John P. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3748-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Battery Management Systems Accurate State-of-Charge Indication for Battery-Powered Applications için kapak resmi
Battery Management Systems Accurate State-of-Charge Indication for Battery-Powered Applications
Yazar 
Pop, Valer. author. Bergveld, Henk Jan. author. Danilov, Dmitry. author. Regtien, Paul P. L. author. Notten, Peter H. L. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-6945-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Measurement Errors and Uncertainties Theory and Practice için kapak resmi
Measurement Errors and Uncertainties Theory and Practice
Yazar 
Rabinovich, Semyon G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29143-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: