Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
10 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Particle Size Measurements Fundamentals, Practice, Quality için kapak resmi
Particle Size Measurements Fundamentals, Practice, Quality
Yazar 
Merkus, Henk G. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-9016-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Surface and Interface Analysis An Electrochemists Toolbox için kapak resmi
Surface and Interface Analysis An Electrochemists Toolbox
Yazar 
Holze, Rudolf. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-49829-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Standardization and Quality Assurance in Fluorescence Measurements II Bioanalytical and Biomedical Applications için kapak resmi
Standardization and Quality Assurance in Fluorescence Measurements II Bioanalytical and Biomedical Applications
Yazar 
Resch-Genger, Ute. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-70571-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Standardization and Quality Assurance in Fluorescence Measurements I Techniques için kapak resmi
Standardization and Quality Assurance in Fluorescence Measurements I Techniques
Yazar 
Resch-Genger, Ute. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-75207-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Atomic and Nuclear Analytical Methods XRF, Mössbauer, XPS, NAA and B63Ion-Beam Spectroscopic Techniques için kapak resmi
Atomic and Nuclear Analytical Methods XRF, Mössbauer, XPS, NAA and B63Ion-Beam Spectroscopic Techniques
Yazar 
Verma, H. R. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-30279-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Very High Resolution Photoelectron Spectroscopy için kapak resmi
Very High Resolution Photoelectron Spectroscopy
Yazar 
Hüfner, Stefan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-68133-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Science of Microscopy için kapak resmi
Science of Microscopy
Yazar 
Hawkes, Peter W. editor. Spence, John C. H. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-49762-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Nanoscale Devices - Fundamentals and Applications için kapak resmi
Nanoscale Devices - Fundamentals and Applications
Yazar 
Gross, Rudolf. editor. Sidorenko, Anatolie. editor. Tagirov, Lenar. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5107-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Inorganic Scintillators for Detector Systems Physical Principles and Crystal Engineering için kapak resmi
Inorganic Scintillators for Detector Systems Physical Principles and Crystal Engineering
Yazar 
Lecoq, Paul. author. Annenkov, Alexander. author. Gektin, Alexander. author. Korzhik, Mikhail. author. Pedrini, Christian. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/3-540-27768-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Integrated Chemical Microsensor Systems in CMOS Technology için kapak resmi
Integrated Chemical Microsensor Systems in CMOS Technology
Yazar 
Hierlemann, Andreas. author. Baltes, H. editor. Fujita, Hiroyuki. editor. Liepmann, Dorian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/b138987
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: