Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Başlık:
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar:
Head, A. K.
ISBN:
9780720417579

9780444601476
Yayın Bilgileri:
Amsterdam, North-Holland Pub. Co., 1973.
Fiziksel Tanımlama:
1 online resource (x, 400 p. with illus.)
Seri:
Defects in crystalline solids, v. 7
Seri Başlığı:
Defects in crystalline solids, v. 7
Yazar Ek Girişi:
Ayırtma:
Kopya:

Rafta:*

Kütüphane
Materyal Türü
Demirbaş Numarası
Yer Numarası
Durumu/İade Tarihi
Materyal Ayırtma
Arıyor...
E-Kitap 256160-1001 ONLINE
Arıyor...

On Order