Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Advanced methods in materials processing defects için kapak resmi
Advanced methods in materials processing defects
Yazar 
Predeleanu, M. Gilormini, P. International Conference on Materials Processing Defects (3rd : 1997 : Cachan, France)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444826701
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Defect control in semiconductors proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors, the Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, September 17-22 1989. Vol. 2 için kapak resmi
Defect control in semiconductors proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors, the Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, September 17-22 1989. Vol. 2
Yazar 
International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors (1989 : Yokohama-shi, Japan) Sumino, K. (Kōji), 1931-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780444884299
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: