Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications için kapak resmi
Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications
Yazar 
Bruma, Alina, editor.
Yer Numarası 
QH212 .S34 S33 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429243011
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Correlative imaging : focusing on the future için kapak resmi
Correlative imaging : focusing on the future
Yazar 
Verkade, Paul, editor. Collinson, Lucy, 1974- editor.
Yer Numarası 
RB43.5
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119086420
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Computed electron micrographs and defect identification için kapak resmi
Computed electron micrographs and defect identification
Yazar 
Head, A. K.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780720417579
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets