Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
7 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Statistical modeling of reliability structures and industrial processes için kapak resmi
Statistical modeling of reliability structures and industrial processes
Yazar 
Triantafyllou, Ioannis S., editor. Ram, Mangey, editor.
Yer Numarası 
TA169
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003203124
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Quality management and operations research : understanding and implementing the nonparametric Bayesian approach için kapak resmi
Quality management and operations research : understanding and implementing the nonparametric Bayesian approach
Yazar 
Faghih, Nezameddin, author. Bonyadi, Ebrahim, author. Sarreshtehdari, Lida, author.
Yer Numarası 
TS156
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003158141
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Safety metrics for the modern safety professional için kapak resmi
Safety metrics for the modern safety professional
Yazar 
Lopez, Gary, author.
Yer Numarası 
T55.3 .S72 L67 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003088332
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Design of mechanical systems based on statistics : a guide to improving product reliability için kapak resmi
Design of mechanical systems based on statistics : a guide to improving product reliability
Yazar 
Woo, Seong-woo, author.
Yer Numarası 
TJ245.5
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429022050
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Handbook of multivariate process capability indices için kapak resmi
Handbook of multivariate process capability indices
Yazar 
Chakraborty, Ashis K., author. Chatterjee, Moutushi, author.
Yer Numarası 
TS156.8
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9780429298349
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success. için kapak resmi
Achieving Product Reliability : A Key to Business Success.
Yazar 
Doganaksoy, Necip, 1960- author. Meeker, William Q., author. Hahn, Gerald J., author.
Yer Numarası 
TS156
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003181361
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
An introduction to acceptance sampling and SPC with R için kapak resmi
An introduction to acceptance sampling and SPC with R
Yazar 
Lawson, John, 1947- author.
Yer Numarası 
TS156.4
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781003100270
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: