Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Konu
Engineering.
(3)
Image processing -- Digital techniques.
(2)
Judicial error -- United States.
(2)
Radiotherapy.
(2)
Systems engineering.
(2)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
22 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Immunity to Error through Misidentification New Essays için kapak resmi
Immunity to Error through Misidentification New Essays
Yazar 
Prosser, Simon. Recanati, François.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Access by subscription
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Error Control for Network-on-Chip Links için kapak resmi
Error Control for Network-on-Chip Links
Yazar 
Fu, Bo. author. Ampadu, Paul. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9313-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Determinants of Earnings Forecast Error, Earnings Forecast Revision and Earnings Forecast Accuracy için kapak resmi
Determinants of Earnings Forecast Error, Earnings Forecast Revision and Earnings Forecast Accuracy
Yazar 
Gell, Sebastian. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-8349-3937-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Quantum information processing and quantum error correction an engineering approach için kapak resmi
Quantum information processing and quantum error correction an engineering approach
Yazar 
Djordjevic, Ivan.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123854919
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach için kapak resmi
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Yazar 
Laurila, Tomi. author. Vuorinen, Vesa. author. Paulasto-Kröckel, Mervi. author. Turunen, Markus. author. Mattila, Toni T. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Transient and Permanent Error Control for Networks-on-Chip için kapak resmi
Transient and Permanent Error Control for Networks-on-Chip
Yazar 
Yu, Qiaoyan. author. Ampadu, Paul. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0962-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Electrical Phenomena at Interfaces and Biointerfaces Fundamentals and Applications in Nano-, Bio-, and Environmental Sciences. için kapak resmi
Electrical Phenomena at Interfaces and Biointerfaces Fundamentals and Applications in Nano-, Bio-, and Environmental Sciences.
Yazar 
Ohshima, Hiroyuki, 1944-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience URL resolved to DOI error on Sept. 25, 2012
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=818455
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118135440
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Image-guided radiation therapy için kapak resmi
Image-guided radiation therapy
Yazar 
Bourland, J. Daniel.
Yer Numarası 
RM847 .I43 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Economic time series : modeling and seasonality için kapak resmi
Economic time series : modeling and seasonality
Yazar 
Bell, William R., 1943- Holan, Scott H. McElroy, Tucker.
Yer Numarası 
HB141 .E255 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Joint models for longitudinal and time-to-event data : with applications in R için kapak resmi
Joint models for longitudinal and time-to-event data : with applications in R
Yazar 
Rizopoulos, Dimitris., author.
Yer Numarası 
QA279 .R59 2012
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
The essentials of finite element modeling and adaptive refinement for beginning analysts to advanced researchers in solid mechanics için kapak resmi
The essentials of finite element modeling and adaptive refinement for beginning analysts to advanced researchers in solid mechanics
Yazar 
Dow, John O., 1941-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=501119
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Stability and degradation of organic and polymer solar cells için kapak resmi
Stability and degradation of organic and polymer solar cells
Yazar 
Krebs, Frederik C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience URL resolved to DOI error on Sept. 25, 2012
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=887260
http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781119942436
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10558083
ebrary http://site.ebrary.com/id/10558083
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: