Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
2 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Reliability prediction for microelectronics için kapak resmi
Reliability prediction for microelectronics
Yazar 
Bernstein, Joseph B., author. Bensoussan, Alain A., author. Bender, Emmanuel (Carl), author.
Yer Numarası 
TK7874
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781394210961
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Statistical quality control using Minitab, R, JMP, and Python için kapak resmi
Statistical quality control using Minitab, R, JMP, and Python
Yazar 
Gupta, Bhisham C., 1942- author.
Yer Numarası 
TS156 .Q3 G86 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119671718
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: