Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
3 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Accelerated life testing of one-shot devices : data collection and analysis için kapak resmi
Accelerated life testing of one-shot devices : data collection and analysis
Yazar 
Balakrishnan, N., 1956- author. Ling, Man Ho, author. So, Hon Yiu, author.
Yer Numarası 
TA169.3 .B35 2021
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119664031
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Accelerated testing and validation testing, engineering, and management tools for lean development için kapak resmi
Accelerated testing and validation testing, engineering, and management tools for lean development
Yazar 
Porter, Alex.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Volltext http://www.sciencedirect.com/science/book/9780750676533
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability için kapak resmi
Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability
Yazar 
LuValle, Michael J., author. Lefevre, Bruce G. Kannan, SriRaman.
Yer Numarası 
TA169.3 .L88 2004
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: