Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
4 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
CMOS Plasma and Process Damage için kapak resmi
CMOS Plasma and Process Damage
Yazar 
Prall, Kirk. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-89029-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Single-Photon Avalanche Diodes and Photon Counting Systems From Phototransduction to Circuit Architecture için kapak resmi
Single-Photon Avalanche Diodes and Photon Counting Systems From Phototransduction to Circuit Architecture
Yazar 
Dandin, Marc. author. McFarlane, Nicole. author. Sajal, Md Sakibur. author. Dehghandehnavi, Fahimeh. author. Nouri, Babak. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-64334-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
X-ray Photon Processing Detectors Space, Industrial, and Medical applications için kapak resmi
X-ray Photon Processing Detectors Space, Industrial, and Medical applications
Yazar 
Hansson, Conny. editor. Iniewski, Krzysztof (Kris). editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-35241-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Biomedical Electronics, Noise Shaping ADCs, and Frequency References Advances in Analog Circuit Design 2022 için kapak resmi
Biomedical Electronics, Noise Shaping ADCs, and Frequency References Advances in Analog Circuit Design 2022
Yazar 
Harpe, Pieter. editor. Baschirotto, Andrea. editor. Makinwa, Kofi A.A. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-28912-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: