Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
5 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition için kapak resmi
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits 2nd Edition
Yazar 
Sachdev, Manoj. editor. Gyvez, José Pineda de. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-46547-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Thermal and power management of integrated circuits için kapak resmi
Thermal and power management of integrated circuits
Yazar 
Vassighi, Arman, 1966- Sachdev, Manoj.
Yer Numarası 
TK7874 .V37 2006
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
3. 
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test için kapak resmi
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies Process-Aware SRAM Design and Test
Yazar 
Pavlov, Andrei. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Thermal and Power Management of Integrated Circuits için kapak resmi
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Yazar 
Vassighi, Arman. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/0-387-29749-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies için kapak resmi
ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies
Yazar 
Semenov, Oleg. author. Sarbishaei, Hossein. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8301-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: