Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(19)
Collège français de métrologie.
(2)
Gåsvik, Kjell J.
(2)
John Wiley & Sons.
(2)
Leach, R. K.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(8)
Metrology.
(8)
Electronic books.
(7)
Nanotechnology.
(5)
Optical measurements.
(4)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
60 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
1. 
Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology için kapak resmi
Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology
Yazar 
Zhao, Yaoyao (Fiona). author. Brown, Robert. author. Kramer, Thomas R. author. Xu, Xun. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-2167-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
2. 
Springer Handbook of Metrology and Testing için kapak resmi
Springer Handbook of Metrology and Testing
Yazar 
Czichos, Horst. editor. Saito, Tetsuya. editor. Smith, Leslie. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16641-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
3. 
Software metrics and software metrology için kapak resmi
Software metrics and software metrology
Yazar 
Abran, Alain, 1949-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=6381791
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
4. 
Computational Surface and Roundness Metrology için kapak resmi
Computational Surface and Roundness Metrology
Yazar 
Muralikrishnan, Bala. author. Raja, Jay. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84800-297-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
5. 
X-ray metrology in semiconductor manufacturing için kapak resmi
X-ray metrology in semiconductor manufacturing
Yazar 
Bowen, D. Keith (David Keith), 1940- Tanner, B. K. (Brian Keith)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
6. 
Handbook of silicon semiconductor metrology için kapak resmi
Handbook of silicon semiconductor metrology
Yazar 
Diebold, A. C. (Alain C.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
7. 
Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions için kapak resmi
Metrology for Fire Experiments in Outdoor Conditions
Yazar 
Silvani, Xavier. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332373.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-7962-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
8. 
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications için kapak resmi
Graphene Nanoelectronics Metrology, Synthesis, Properties and Applications
Yazar 
Raza, Hassan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22984-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
9. 
Distributed Large-Scale Dimensional Metrology New Insights için kapak resmi
Distributed Large-Scale Dimensional Metrology New Insights
Yazar 
Franceschini, Fiorenzo. author. Galetto, Maurizio. author. Maisano, Domenico. author. Mastrogiacomo, Luca. author. Pralio, Barbara. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-543-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
10. 
Digital holography for MEMS and microsystem metrology için kapak resmi
Digital holography for MEMS and microsystem metrology
Yazar 
Asundi, Anand.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781119997290
http://lib.myilibrary.com?id=317798
http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=697681
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
11. 
Advances in speckle metrology and related techniques için kapak resmi
Advances in speckle metrology and related techniques
Yazar 
Kaufmann, Guillermo H.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Wiley InterScience - Full Text Online http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9783527633852
http://site.ebrary.com/lib/alltitles/Doc?id=10446636
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
12. 
Handbook of optical metrology principles and applications için kapak resmi
Handbook of optical metrology principles and applications
Yazar 
Yoshizawa, T?ru, 1939-
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets