Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
16 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
0000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Mathematical Methodologies in Pattern Recognition and Machine Learning Contributions from the International Conference on Pattern Recognition Applications and Methods, 2012 için kapak resmi
Mathematical Methodologies in Pattern Recognition and Machine Learning Contributions from the International Conference on Pattern Recognition Applications and Methods, 2012
Yazar 
Latorre Carmona, Pedro. editor. Sánchez, J. Salvador. editor. Fred, Ana L.N. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331669.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-5076-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Agents and Artificial Intelligence Second International Conference, ICAART 2010, Valencia, Spain, January 22-24, 2010. Revised Selected Papers için kapak resmi
Agents and Artificial Intelligence Second International Conference, ICAART 2010, Valencia, Spain, January 22-24, 2010. Revised Selected Papers
Yazar 
Filipe, Joaquim. editor. Fred, Ana. editor. Sharp, Bernadette. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-19890-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Agents and Artificial Intelligence International Conference, ICAART 2009, Porto, Portugal, January 19-21, 2009. Revised Selected Papers için kapak resmi
Agents and Artificial Intelligence International Conference, ICAART 2009, Porto, Portugal, January 19-21, 2009. Revised Selected Papers
Yazar 
Filipe, Joaquim. editor. Fred, Ana. editor. Sharp, Bernadette. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-11819-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings için kapak resmi
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006. Proceedings
Yazar 
Yeung, Dit-Yan. editor. Kwok, James T. editor. Fred, Ana. editor. Roli, Fabio. editor. Ridder, Dick. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11815921
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: