Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
20 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits için kapak resmi
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Yazar 
Liu, Xiao. author. Xu, Qiang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch için kapak resmi
MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch
Yazar 
Srivastava, Viranjay M. author. Singh, Ghanshyam. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-01165-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization için kapak resmi
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization
Yazar 
Richter, Detlev. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-6082-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Semiconductor Technologies in the Era of Electronics için kapak resmi
Semiconductor Technologies in the Era of Electronics
Yazar 
Kang, Yong Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-017-8768-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies için kapak resmi
Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies
Yazar 
Sun, Guangyu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-00681-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author. Kaczer, Ben. author. Groeseneken, Guido. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Electronic devices and circuits için kapak resmi
Electronic devices and circuits
Yazar 
Bell, David A.
Yer Numarası 
TK7871.85 B3785 2010
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Electronic devices and circuits için kapak resmi
Electronic devices and circuits
Yazar 
Nagrath, I. J.
Yer Numarası 
TK7860 N34 2007
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya: