Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Nanotechnology.
(7)
Optical materials.
(7)
Engineering.
(6)
Nanotechnology and Microengineering.
(6)
Physics.
(6)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
31 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Low Dimensional Semiconductor Structures Characterization, Modeling and Applications için kapak resmi
Low Dimensional Semiconductor Structures Characterization, Modeling and Applications
Yazar 
Ünlü, Hilmi. editor. Horing, Norman J. M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333183.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-28424-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Aligned Carbon Nanotubes Physics, Concepts, Fabrication and Devices için kapak resmi
Aligned Carbon Nanotubes Physics, Concepts, Fabrication and Devices
Yazar 
Ren, Zhifeng. author. Lan, Yucheng. author. Wang, Yang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333331.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-30490-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
The GEC Research Laboratories 1919-1984 için kapak resmi
The GEC Research Laboratories 1919-1984
Yazar 
Clayton, Robert Bowers, B., ed. Algar, Joan GEC Research Laboratories
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1049/PBHT010E
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Bonds and bands in semiconductors için kapak resmi
Bonds and bands in semiconductors
Yazar 
Phillips, J. C.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780125533508
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Production Planning and Control in Semiconductor Manufacturing Big Data Analytics and Industry 4.0 Applications için kapak resmi
Production Planning and Control in Semiconductor Manufacturing Big Data Analytics and Industry 4.0 Applications
Yazar 
Chen, Tin-Chih Toly. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-14065-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System için kapak resmi
Feature Profile Evolution in Plasma Processing Using On-wafer Monitoring System
Yazar 
Samukawa, Seiji. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-4-431-54795-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Light-Emitting Diodes Materials, Processes, Devices and Applications için kapak resmi
Light-Emitting Diodes Materials, Processes, Devices and Applications
Yazar 
Li, Jinmin. editor. Zhang, G. Q. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-99211-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Toward Quantum FinFET için kapak resmi
Toward Quantum FinFET
Yazar 
Han, Weihua. editor. Wang, Zhiming M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332897.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02021-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
FIB Nanostructures için kapak resmi
FIB Nanostructures
Yazar 
Wang, Zhiming M. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332951.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-02874-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Quantum dot lasers için kapak resmi
Quantum dot lasers
Yazar 
Ustinov, Victor M. (Victor Mikhailovich)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Oxford scholarship online http://dx.doi.org/10.1093/acprof:oso/9780198526797.001.0001
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Silicon-based photonics için kapak resmi
Silicon-based photonics
Yazar 
Kasper, Erich, author. Yu, Jinzhong, 1943- author.
Yer Numarası 
TK7871.15 .S55 K37 2021
Elektronik Erişim 
Taylor & Francis https://www.taylorfrancis.com/books/9781315156514
OCLC metadata license agreement http://www.oclc.org/content/dam/oclc/forms/terms/vbrl-201703.pdf
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective için kapak resmi
CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4939-1349-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: