Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(430)
Wang, Zhiming M. editor.
(9)
Korkin, Anatoli. editor.
(4)
Demchenko, Alexander P. editor.
(3)
Lee, Kwang-Sup. editor.
(3)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(142)
Physics.
(131)
Electronics.
(117)
Nanotechnology.
(110)
Chemistry.
(108)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
442 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
169. 
Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures Mobile Ions Effects on the Oxide Properties için kapak resmi
Transport in Metal-Oxide-Semiconductor Structures Mobile Ions Effects on the Oxide Properties
Yazar 
Bentarzi, Hamid. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16304-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
170. 
Lanthanide Luminescence Photophysical, Analytical and Biological Aspects için kapak resmi
Lanthanide Luminescence Photophysical, Analytical and Biological Aspects
Yazar 
Hänninen, Pekka. editor. Härmä, Harri. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-21023-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
171. 
Physics and Technology of Amorphous-Crystalline Heterostructure Silicon Solar Cells için kapak resmi
Physics and Technology of Amorphous-Crystalline Heterostructure Silicon Solar Cells
Yazar 
Sark, Wilfried G. J. H. M. editor. Korte, Lars. editor. Roca, Francesco. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-22275-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
172. 
Nanostructure Semiconductor Optical Amplifiers Building Blocks for All-Optical Processing için kapak resmi
Nanostructure Semiconductor Optical Amplifiers Building Blocks for All-Optical Processing
Yazar 
Rostami, Ali. author. Baghban, Hamed. author. Maram, Reza. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-14925-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
173. 
Deterministic Solvers for the Boltzmann Transport Equation için kapak resmi
Deterministic Solvers for the Boltzmann Transport Equation
Yazar 
Hong, Sung-Min. author. Pham, Anh-Tuan. author. Jungemann, Christoph. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-0778-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
174. 
Multifunctional Polycrystalline Ferroelectric Materials Processing and Properties için kapak resmi
Multifunctional Polycrystalline Ferroelectric Materials Processing and Properties
Yazar 
Pardo, Lorena. author. Ricote, Jesús. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-2875-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
175. 
Swift Heavy Ions for Materials Engineering and Nanostructuring için kapak resmi
Swift Heavy Ions for Materials Engineering and Nanostructuring
Yazar 
Avasthi, D. K. author. Mehta, G. K. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1229-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
176. 
Device Architecture and Materials for Organic Light-Emitting Devices Targeting High Current Densities and Control of the Triplet Concentration için kapak resmi
Device Architecture and Materials for Organic Light-Emitting Devices Targeting High Current Densities and Control of the Triplet Concentration
Yazar 
Schols, Sarah. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1608-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
177. 
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects için kapak resmi
The ELFNET Book on Failure Mechanisms, Testing Methods, and Quality Issues of Lead-Free Solder Interconnects
Yazar 
Grossmann, Günter. editor. Zardini, Christian. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-0-85729-236-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
178. 
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems için kapak resmi
Reliability of Microtechnology Interconnects, Devices and Systems
Yazar 
Liu, Johan. author. Salmela, Olli. author. Sarkka, Jussi. author. Morris, James E. author. Tegehall, Per-Erik. author.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5760-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
179. 
Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis için kapak resmi
Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis
Yazar 
Pennycook, Stephen J. editor. Nellist, Peter D. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
180. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç