Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(189)
Le, Tao.
(12)
Dulan, Steven W.
(10)
Advantage Education (Firm)
(9)
Graduate Record Examinations Board.
(8)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Test-taking skills.
(103)
Universities and colleges -- Entrance examinations -- Study guides.
(50)
Mathematics -- Examinations -- Study guides.
(35)
College entrance achievement tests -- Study guides.
(34)
Advanced placement programs (Education) -- Examinations -- Study guides.
(32)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
940 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
229. 
Assessing neuromotor readiness for learning the INPP developmental screening test and school intervention programme için kapak resmi
Assessing neuromotor readiness for learning the INPP developmental screening test and school intervention programme
Yazar 
Goddard, Sally, 1957- Wiley InterScience (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Wiley InterScience An electronic book accessible through the World Wide Web; click for information
Cover image http://catalogimages.wiley.com/images/db/jimages/9781119970682.jpg
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
230. 
Medeni hukuk pratik çalışmaları : çözülmüş problemler, çözülmemiş problemler, test soruları ve cevapları için kapak resmi
Medeni hukuk pratik çalışmaları : çözülmüş problemler, çözülmemiş problemler, test soruları ve cevapları
Yazar 
Ünal, Mehmet.
Yer Numarası 
KB500 M434 2012
Format: 
Durum 
Hukuk Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
231. 
Statistical models for test equating, scaling, and linking için kapak resmi
Statistical models for test equating, scaling, and linking
Yazar 
Davier, Alina A. von.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
EBSCOhost http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&scope=site&db=nlebk&db=nlabk&AN=372637
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
232. 
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces için kapak resmi
Accelerating Test, Validation and Debug of High Speed Serial Interfaces
Yazar 
Fan, Yongquan. author. Zilic, Zeljko. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9398-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
233. 
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration için kapak resmi
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters Design, Test and Calibration
Yazar 
Zjajo, Amir. author. Pineda de Gyvez, José. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-90-481-9725-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
234. 
İlköğretim 7.Sınıf Öğrencilerinin Seviye Belirleme Sınavı (SBS) 2010 Fen ve Teknoloji Alt Test Başarılarına Etki Eden Bazı Faktörler için kapak resmi
İlköğretim 7.Sınıf Öğrencilerinin Seviye Belirleme Sınavı (SBS) 2010 Fen ve Teknoloji Alt Test Başarılarına Etki Eden Bazı Faktörler
Yazar 
Şahin, Murat Doğan.
Yer Numarası 
TEZ 9998 .S24 2011
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
235. 
Voleybol Becerileri Gözlem Formu ile Elde Edilen Puanların Genellenebilirlik ve Klasik Test Kuramına Göre Karşılaştırılması için kapak resmi
Voleybol Becerileri Gözlem Formu ile Elde Edilen Puanların Genellenebilirlik ve Klasik Test Kuramına Göre Karşılaştırılması
Yazar 
Öztürk, Meltem Emel.
Yer Numarası 
TEZ 10009 .O98 2011
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
236. 
Streamline numerical well test interpretation theory and method için kapak resmi
Streamline numerical well test interpretation theory and method
Yazar 
Jun, Yao. Wu, Minglu.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780123860279
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
237. 
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures için kapak resmi
Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures
Yazar 
Navabi, Zainalabedin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
238. 
İnci Tanelerin Kırılma Davranımlarının Belirlenebileceği Bir Test Yöntemi Geliştirilmesi = Development of a Test Method for Determination of Breakage Behavior of Fine Particles için kapak resmi
İnci Tanelerin Kırılma Davranımlarının Belirlenebileceği Bir Test Yöntemi Geliştirilmesi = Development of a Test Method for Determination of Breakage Behavior of Fine Particles
Yazar 
Ekşi, Deniz.
Yer Numarası 
TEZ 9703 .E37 2011
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
239. 
Passing the test combat in Korea, April-June 1951 için kapak resmi
Passing the test combat in Korea, April-June 1951
Yazar 
Greenwood, John T. Bowers, William T., 1946- Project Muse.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Full text available:
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
240. 
Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban? için kapak resmi
Detect and Deter: Can Countries Verify the Nuclear Test Ban?
Yazar 
Dahlman, Ola. author. Mackby, Jenifer. author. Mykkeltveit, Svein. author. Haak, Hein. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-1676-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç