Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(90)
Steyaert, Michiel. author.
(7)
Wiley InterScience (Online service)
(6)
Iniewski, Krzysztof, 1960-
(4)
Sicard, Etienne.
(4)
Dil
English
(148)
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(65)
Systems engineering.
(65)
Electronics.
(45)
Metal oxide semiconductors, Complementary.
(22)
Metal oxide semiconductors, Complementary -- Design and construction.
(18)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
157 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Bio-Medical CMOS ICs için kapak resmi
Bio-Medical CMOS ICs
Yazar 
Yoo, Hoi-Jun. editor. Hoof, Chris. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6597-4
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Advanced CMOS process technology için kapak resmi
Advanced CMOS process technology
Yazar 
Pimbley, J. M. (Joseph M.)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect http://www.sciencedirect.com/science/book/9780122341199
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
High mobility materials for CMOS applications için kapak resmi
High mobility materials for CMOS applications
Yazar 
Collaert, Nadine, editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
ScienceDirect https://www.sciencedirect.com/science/book/9780081020616
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Ultra Low Noise CMOS Image Sensors için kapak resmi
Ultra Low Noise CMOS Image Sensors
Yazar 
Boukhayma, Assim. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-68774-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Analog Filters in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog Filters in Nanometer CMOS
Yazar 
Uhrmann, Heimo. author. Kolm, Robert. author. Zimmermann, Horst. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-642-38013-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
CMOS Integrated Capacitive DC-DC Converters için kapak resmi
CMOS Integrated Capacitive DC-DC Converters
Yazar 
Van Breussegem, Tom. author. Steyaert, Michiel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331465.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4280-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Bio/CMOS Interfaces and Co-Design için kapak resmi
Bio/CMOS Interfaces and Co-Design
Yazar 
Carrara, Sandro. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331564.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-4690-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS için kapak resmi
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Yazar 
Maricau, Elie. author. Gielen, Georges. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(331961.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6163-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Electrothermal Frequency References in Standard CMOS için kapak resmi
Electrothermal Frequency References in Standard CMOS
Yazar 
Kashmiri, S. Mahdi. author. Makinwa, Kofi A. A. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(332040.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-6473-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
A Biologically Inspired CMOS Image Sensor için kapak resmi
A Biologically Inspired CMOS Image Sensor
Yazar 
Sarkar, Mukul. author. Theuwissen, Albert. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(333899.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-34901-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Nano-CMOS gate dielectric engineering için kapak resmi
Nano-CMOS gate dielectric engineering
Yazar 
Wong, Hei.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Distributed by publisher. Purchase or institutional license may be required for access.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology için kapak resmi
Microelectronic Test Structures for CMOS Technology
Yazar 
Bhushan, Manjul. author. Ketchen, Mark B. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Go to:Search Results
|
Top of Page
|
Search Facets