Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
20 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
00000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Integrated Formal Methods 6th International Conference, IFM 2007, Oxford, UK, July 2-5, 2007. Proceedings için kapak resmi
Integrated Formal Methods 6th International Conference, IFM 2007, Oxford, UK, July 2-5, 2007. Proceedings
Yazar 
Davies, Jim. editor. Gibbons, Jeremy. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-73210-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Integrated System-Level Modeling of Network-on-Chip enabled Multi-Processor Platforms için kapak resmi
Integrated System-Level Modeling of Network-on-Chip enabled Multi-Processor Platforms
Yazar 
Kogel, Tim. author. Leupers, Rainer. author. Meyr, Heinrich. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4826-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Integrated Formal Methods 5th International Conference, IFM 2005, Eindhoven, The Netherlands, November 29 - December 2, 2005. Proceedings için kapak resmi
Integrated Formal Methods 5th International Conference, IFM 2005, Eindhoven, The Netherlands, November 29 - December 2, 2005. Proceedings
Yazar 
Romijn, Judi. editor. Smith, Graeme. editor. Pol, Jaco. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/11589976
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
3D Integration for NoC-based SoC Architectures için kapak resmi
3D Integration for NoC-based SoC Architectures
Yazar 
Sheibanyrad, Abbas. editor. Pétrot, Frédéric. editor. Jantsch, Axel. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7618-5
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS için kapak resmi
Design for Manufacturability and Yield for Nano-Scale CMOS
Yazar 
Chiang, Charles C. author. Kawa, Jamil. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
ITNG 2023 20th International Conference on Information Technology-New Generations için kapak resmi
ITNG 2023 20th International Conference on Information Technology-New Generations
Yazar 
Latifi, Shahram. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-031-28332-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Systems engineering of software-enabled systems için kapak resmi
Systems engineering of software-enabled systems
Yazar 
Fairley, R. E. (Richard E.), 1937- author.
Yer Numarası 
QA76.758
Elektronik Erişim 
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119535041
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Computers, Software Engineering, and Digital Devices için kapak resmi
Computers, Software Engineering, and Digital Devices
Yazar 
Dorf, Richard C., author. Taylor and Francis.
Yer Numarası 
TK7885
Elektronik Erişim 
Click here to view.
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya: