Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(354)
Papula, Lothar. author.
(9)
Weißgerber, Wilfried. author.
(9)
Cao, Lei. editor.
(6)
Qian, Zhihong. editor.
(6)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Engineering.
(271)
Systems engineering.
(63)
Computer science.
(60)
Telecommunication.
(59)
Electronics.
(48)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
374 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Recent Advances in Computer Science and Information Engineering Volume 5 için kapak resmi
Recent Advances in Computer Science and Information Engineering Volume 5
Yazar 
Qian, Zhihong. editor. Cao, Lei. editor. Su, Weilian. editor. Wang, Tingkai. editor. Yang, Huamin. editor.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-25792-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Fundamentals of electromagnetics for electrical and computer engineering için kapak resmi
Fundamentals of electromagnetics for electrical and computer engineering
Yazar 
Narayana Rao, Nannapaneni.
Yer Numarası 
QC670 N32 2009
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Radio Link Quality Estimation in Low-Power Wireless Networks için kapak resmi
Radio Link Quality Estimation in Low-Power Wireless Networks
Yazar 
Baccour, Nouha. author. Koubâa, Anis. author. Noda, Claro. author. Fotouhi, Hossein. author. Alves, Mário. author.
Yer Numarası 
ONLINE(332799.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-00774-8
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
LNA-ESD Co-Design for Fully Integrated CMOS Wireless Receivers için kapak resmi
LNA-ESD Co-Design for Fully Integrated CMOS Wireless Receivers
Yazar 
Leroux, Paul. author. Steyaert, Michiel. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3191-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Modeling for reliability analysis Markov modeling for reliability, maintainability, safety, and supportability analyses of complex computer systems için kapak resmi
Modeling for reliability analysis Markov modeling for reliability, maintainability, safety, and supportability analyses of complex computer systems
Yazar 
Pukite, Jan, 1928- Pukite, Paul.
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
IEEE Xplore http://ieeexplore.ieee.org/xpl/bkabstractplus.jsp?bkn=5263338
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
Sistem ve network mühendisliği için kapak resmi
Sistem ve network mühendisliği
Yazar 
Kırbaş, Kayhan.
Yer Numarası 
QA76.76.O63 K463 2021
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Bilgisayar mimarisi ve tasarım : donanım / yazılım arayüzü için kapak resmi
Bilgisayar mimarisi ve tasarım : donanım / yazılım arayüzü
Yazar 
Patterson, David A. Hennessy, John L. Dağ, Hasan.
Yer Numarası 
QA76.9.C643 P3719 2021
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~2
Rafta:
Kopya:
20. 
Sistem ve network mühendisliği için kapak resmi
Sistem ve network mühendisliği
Yazar 
Kırbaş, Kayhan. Soylu, İrem.
Yer Numarası 
QA76.76.O63 K463 2021
Format: 
Durum 
Beytepe Kütüphanesi~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Software Challenges to Exascale Computing Second Workshop, SCEC 2018, Delhi, India, December 13-14, 2018, Proceedings için kapak resmi
Software Challenges to Exascale Computing Second Workshop, SCEC 2018, Delhi, India, December 13-14, 2018, Proceedings
Yazar 
Majumdar, Amit. editor. Arora, Ritu. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-981-13-7729-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Applications in Electronics Pervading Industry, Environment and Society APPLEPIES 2018 için kapak resmi
Applications in Electronics Pervading Industry, Environment and Society APPLEPIES 2018
Yazar 
Saponara, Sergio. editor. De Gloria, Alessandro. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-11973-7
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
Proceedings of the 12th International Conference on Measurement and Quality Control - Cyber Physical Issue IMEKO TC 14 2019 için kapak resmi
Proceedings of the 12th International Conference on Measurement and Quality Control - Cyber Physical Issue IMEKO TC 14 2019
Yazar 
Majstorovic, Vidosav D. editor. (orcid)0000-0001-9534-8461 Durakbasa, Numan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18177-2
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Advances in Manufacturing II Volume 1 - Solutions for Industry 4.0 için kapak resmi
Advances in Manufacturing II Volume 1 - Solutions for Industry 4.0
Yazar 
Trojanowska, Justyna. editor. Ciszak, Olaf. editor. Machado, José Mendes. editor. Pavlenko, Ivan. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-030-18715-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç