Arama Sonuçlarını Sınırlandır
Yazar
SpringerLink (Online service)
(23)
Wiley InterScience (Online service)
(4)
Wang, Zhiming M. editor.
(3)
Banerjee, Sanjay, ort. yaz.
(2)
Capper, Peter.
(2)
Dil
Yayın Yılı
-
Konu
Optical materials.
(14)
Electronic circuits.
(12)
Optical and Electronic Materials.
(11)
Physics.
(9)
Engineering.
(8)
Materyal Türü
Shelf Location
Kütüphane
Liste görünümüne geç
Küçük resim görünümüne geç
Eylem Seç
50 sonuç bulundu Arama sonuçlarına abone ol
000000000000DEFAULT_TR
Yazdır
13. 
Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices, and applications için kapak resmi
Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices, and applications
Yazar 
Kimoto, Tsunenobu, 1963- author. Cooper, James A., 1946- author.
Yer Numarası 
ONLINE(341501.1)
Elektronik Erişim 
ebrary An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118313534
Safari Books Online http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9781118313558
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
14. 
Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems için kapak resmi
Energy-Efficient Fault-Tolerant Systems
Yazar 
Mathew, Jimson. editor. Shafik, Rishad A. editor. Pradhan, Dhiraj K. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-4193-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
15. 
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs için kapak resmi
Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs
Yazar 
Noia, Brandon. author. Chakrabarty, Krishnendu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-02378-6
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
16. 
Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies için kapak resmi
Exploring Memory Hierarchy Design with Emerging Memory Technologies
Yazar 
Sun, Guangyu. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-00681-9
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
17. 
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits için kapak resmi
Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Yazar 
Liu, Xiao. author. Xu, Qiang. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-00533-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
18. 
MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch için kapak resmi
MOSFET Technologies for Double-Pole Four-Throw Radio-Frequency Switch
Yazar 
Srivastava, Viranjay M. author. Singh, Ghanshyam. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-3-319-01165-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
19. 
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications için kapak resmi
Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Yazar 
Franco, Jacopo. author. Kaczer, Ben. author. Groeseneken, Guido. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
20. 
Semiconductor Technologies in the Era of Electronics için kapak resmi
Semiconductor Technologies in the Era of Electronics
Yazar 
Kang, Yong Hoon. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-017-8768-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
21. 
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization için kapak resmi
Flash Memories Economic Principles of Performance, Cost and Reliability Optimization
Yazar 
Richter, Detlev. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-94-007-6082-0
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
22. 
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits için kapak resmi
Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Yazar 
Grasser, Tibor. editor. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
https://doi.org/10.1007/978-1-4614-7909-3
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
23. 
High Mobility and Quantum Well Transistors Design and TCAD Simulation için kapak resmi
High Mobility and Quantum Well Transistors Design and TCAD Simulation
Yazar 
Hellings, Geert. author. De Meyer, Kristin. author. SpringerLink (Online service)
Yer Numarası 
ONLINE(336218.1)
Elektronik Erişim 
http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-6340-1
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
24. 
Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics için kapak resmi
Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics
Yazar 
Claverie, A. (Alain)
Yer Numarası 
ONLINE
Elektronik Erişim 
Ebook Library http://public.eblib.com/EBLPublic/PublicView.do?ptiID=1117321
John Wiley http://dx.doi.org/10.1002/9781118579022
Safari Books Online http://proquest.safaribooksonline.com/?fpi=9781118579053
Wiley http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9781118579022
Volltext http://proquest.tech.safaribooksonline.de/9781118579053
Format: 
Durum 
Çevrimiçi Kütüphane~1
Rafta:
Kopya:
Eylem Seç